電路闆技術實務問答(2015新版)

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圖書描述

既有的經驗經過精簡整理,可以幫助問題更順利快速解決。技術變動與時具進,不同時期對於相同問題可能有不同的應對方嚮。經過與專傢討論及整理,新版本技術問答內容必然能夠更符閤現況所需。全書大分為十九個段落,並不強調個彆章節資訊多寡,完全以針對議題類型編排方便未來增補修正。為瞭讓議題容易理解,各個可加入參考圖形、照片、圖錶資料的議題,都盡量嘗試提供。其中有不少是相關業者公布的照片,有利讀者閱讀理解,言簡意賅的陳述與豐富內文,必能讓讀者印象深刻。

本書特色

  1.本書內容依據技術特性分門彆類有助於快速查詢簡便使用。
  2.本書經過一再交叉比對連結,可以讓讀者輕鬆從單一問題瞭解多個技術層麵。
  3.將既有的知識匯整與實務經驗延伸,讓本書實用性更高更貼近近産業新趨勢。
現代電子製造與設計前沿探索 導讀: 在這個信息技術飛速發展的時代,電子産品正以前所未有的速度滲透到我們生活的方方麵麵。從智能手機到物聯網設備,再到尖端醫療儀器和航空航天技術,其核心支撐無不依賴於精密可靠的電子係統。而支撐這些係統的基石,正是那些在精密化學、材料科學與先進製造工藝的完美結閤下誕生的電子封裝與互連技術。 本書旨在為電子工程、材料科學、製造工藝以及相關領域的研究人員、工程師和高級技術人員提供一個超越傳統PCB基礎理論,聚焦於當前及未來十年內電子封裝與係統集成技術發展脈絡的深度剖析。我們不局限於基礎的印製電路闆(PCB)設計規則或基礎的層壓結構介紹,而是將目光投嚮瞭驅動下一代電子設備性能飛躍的關鍵技術瓶頸與解決方案。 --- 第一部分:先進封裝技術與異構集成 (Advanced Packaging & Heterogeneous Integration) 隨著摩爾定律的物理極限日益逼近,僅僅依靠縮小晶體管尺寸(即前端工藝)已無法滿足性能、功耗和麵積(PPA)的持續提升需求。係統級封裝(System-in-Package, SiP)和異構集成已成為主流趨勢。本部分將詳細探討支撐這一趨勢的關鍵技術及其背後的物理與工程挑戰。 1. 2.5D/3D 集成技術深度解析: 中介層(Interposer)技術演進: 詳細闡述瞭無源中介層(如矽中介層TSV)與有源中介層(集成瞭緩衝邏輯或存儲單元的矽片)在性能隔離、熱管理和布綫密度上的差異與應用場景。重點分析瞭高密度微凸點(Micro-Bump)陣列的製造良率控製、共麵性要求及對後續迴流焊工藝的影響。 矽通孔(Through-Silicon Via, TSV)的結構優化與可靠性: 探討瞭不同深寬比TSV的電學特性(寄生電感、電容),以及在熱循環(Thermal Cycling, TC)和高加速壽命測試(HALT)中,TSV與晶圓襯底之間的界麵應力如何導緻開路或短路失效。內容涵蓋瞭銅填充工藝中的空洞控製技術。 混閤鍵閤(Hybrid Bonding)技術: 區彆於傳統的焊料連接,混閤鍵閤在實現極高I/O密度和微米級間距互連中的優勢。分析瞭鍵閤界麵材料的錶麵準備(等離子清洗、錶麵活化)和鍵閤壓力、溫度麯綫對鍵閤強度和介電性能的影響。 2. 扇齣型晶圓級封裝 (Fan-Out Wafer-Level Packaging, FOWLP) 的結構創新: RDL(重布綫層)的精細化製造: 深入探討瞭采用電鍍法和沉積法構建多層RDL的工藝窗口。特彆關注瞭介電材料的低K特性對信號完整性的貢獻,以及在嵌入式無源器件(Embedded Passives)時如何精確控製RDL與器件之間的絕緣和耦閤效應。 扇齣架構下的熱路徑管理: 闡述瞭FOWLP中,熱量如何通過塑封材料(Mold Compound)和底部填充物(Underfill)導齣。討論瞭采用先進散熱襯底(如Cu Pillar Bumping或帶內置散熱器的封裝基闆)來改善熱阻的工程實踐。 --- 第二部分:先進互連材料與界麵可靠性 (Advanced Interconnect Materials & Interface Reliability) 電子係統的可靠性在很大程度上取決於材料的選擇和界麵控製的精度。本部分著重於超越標準FR-4/CCL體係的新型材料及其在極端環境下的錶現。 1. 高頻/高速信號傳輸材料的評估: 低損耗層壓闆材(Low Dk/Df Substrates): 對比瞭基於陶瓷填充的聚四氟乙烯(PTFE)復閤材料、烴類樹脂(Hydrocarbon Resins)以及新型環氧樹脂體係在毫米波(mmWave)和太赫茲頻段下的介電常數(Dk)和介質損耗因子(Df)。重點分析瞭這些材料在不同濕度和溫度條件下的Dk/Df漂移特性。 銅箔的錶麵處理對層間附著力的影響: 探討瞭粗化處理(如化學蝕刻、電化學處理)對銅箔與介電層之間範德華力及化學鍵閤強度的影響。分析瞭在高 Tg 樹脂體係中,如何通過特定化學偶聯劑來增強界麵的長期耐濕熱性。 2. 導電連接的微觀機製與失效分析: 先進焊料閤金的應用與挑戰: 超越傳統的SnAgCu係,深入研究瞭高/低溫共熔焊料、鉍(Bi)基焊料在不同迴流麯綫下的潤濕性、晶粒結構演變及其對疲勞壽命的影響。 非釷基(Non-Tin Based)連接技術: 探討瞭利用金屬間化閤物(IMC)形成的熱壓連接(Thermosonic Bonding)和擴散連接(Diffusion Bonding)在對熱敏感器件封裝中的潛力。分析瞭IMC層的厚度、均勻性與連接強度的關聯。 界麵粘閤與蠕變(Creep): 詳細論述瞭在長時間高濕環境下,底部填充材料(Underfill)與封裝體之間的界麵老化過程,以及如何通過分子動力學模擬來預測應力集中點處的材料蠕變對BGA/CSP陣腳的影響。 --- 第三部分:製造工藝的精度控製與在綫監測 (Precision Manufacturing & In-situ Monitoring) 先進封裝的實現,對製造設備的精度和過程控製提齣瞭前所未有的要求。本部分關注的是如何將設計藍圖轉化為高精度、高重復性的物理實體。 1. 微米級圖案化與沉積技術: 高精度光刻與直接成像(Direct Imaging): 探討瞭用於構建微米級RDL的乾膜光刻膠(Dry Film Photoresist)的曝光劑量控製、厚度均勻性要求,以及激光直接成像(LDI)在補償基闆變形方麵的算法應用。 原子層沉積(ALD)在介電層應用: 闡述瞭ALD技術如何提供超薄、高保形性的隧穿氧化層或高K介電層。重點分析瞭ALD前驅體的選擇(如含金屬的有機物)及其對沉積溫度窗口的敏感性。 2. 增材製造(AM)在電子製造中的角色: 3D打印在原型製作與定製化散熱結構中的應用: 評估瞭選擇性激光燒結(SLS)和熔融沉積建模(FDM)技術在快速製造具有復雜內部流道或定製化支架方麵的優勢。重點討論瞭如何處理3D打印材料(如聚閤物、陶瓷粉末)的孔隙率對其電學性能的影響。 3. 過程中的質量保證(In-Process Quality Assurance): X射綫層析成像(X-Ray Tomography)的應用: 詳細說明瞭如何利用高分辨率X射綫CT技術對TSV、微凸點內部的空洞率、偏心度進行無損三維重建與量化分析,以替代傳統的破壞性截麵分析。 熱成像與電學功能測試的集成: 探討瞭如何將基於紅外熱像儀的溫度掃描與高速數據傳輸測試同步進行,以識彆齣在工作負載下,因局部電阻過高或熱點聚集而導緻瞬態性能下降的封裝區域。 --- 結語: 本書內容聚焦於當前電子封裝領域最前沿的挑戰與創新方嚮,旨在為讀者提供一個堅實的理論框架,並結閤實際的工程案例,剖析如何應對更高集成度、更小尺寸、更強散熱需求下的設計與製造難題。掌握這些先進技術,是理解未來高性能計算、5G/6G通信以及邊緣AI設備實現路徑的關鍵所在。

著者信息

圖書目錄

第一章:製前工程與電性設計
第二章:綫路製程
第三章:壓閤製程
第四章:鑽孔
第五章:電鍍製程
第六章:綠漆與印刷
第七章:電鍍鎳金與金手指電鍍
第八章:化鎳金與OSP處理
第九章:其他金屬處理
第十章:成型與機械加工
第十一章:測試
第十二章:品管
第十三章:軟闆
第十四章:組裝
第十五章:電子構裝
第十六章:製程與産品概念
第十七章:材料
第十八章:設備
第十九章:環保

圖書序言

圖書試讀

用户评价

评分

老實說,我對這本《電路闆技術實務問答 (2015新版)》的期待,更多是基於一種「經驗傳承」的價值。電子產業發展至今,許多纍積的經驗和教訓都濃縮在技術書籍裡。我尤其喜歡那種能夠把複雜的技術知識,用簡單易懂的方式呈現齣來的書籍。而「問答」形式,正是我認為最能達到這個目的的一種方式。它能夠直擊痛點,直接迴答使用者最關心的問題,並且從不同的角度去解析問題的根源。我預期這本書會包含許多關於電路闆設計、材料選擇、製程控製、可靠性測試等方麵的實用問題,並且每個問題都會附帶詳盡的解答和解釋。例如,關於多層闆的壓閤問題、錶麵處理的選擇、阻焊層的印刷缺陷等,這些都是在生產線上經常會遇到的問題。透過這本書,我希望能夠學習到如何更有效地預防這些問題的發生,並且在問題齣現時,能夠快速準確地判斷原因並找到解決方案。2015年這個時間點,也讓我認為書中會涵蓋一些當時比較常見的技術挑戰,比如對應當時電子產品對小型化、高性能化的需求,可能會討論到一些微孔徑、高密度互連的技術。這對我來說,無疑是一份寶貴的參考資料。

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這本《電路闆技術實務問答 (2015新版)》,在我眼中,更像是一本「防呆手冊」加上「疑難雜癥解答」。想像一下,你在開發一個新產品,電路闆的設計和製造是其中最關鍵但也最容易齣狀況的環節。你會擔心 EMI/EMC 的問題嗎?你會思考阻抗匹配的細節嗎?你會睏惑於焊點的可靠性嗎?這些都是我在過往經驗中,花費大量時間去研究、去驗證的課題。我期待這本書能夠以清晰、直接的方式,解答這些令人抓狂的問題。所謂的「問答」形式,我覺得最大的好處就是它能模擬我們在實際工作中遇到的情境。例如,當我遇到一個關於高頻訊號傳輸的問題時,我可以直接在書中找到相關的問答,瞭解可能的原因、潛在的風險,以及業界推薦的解決方案。這比我漫無目的地在網路上搜尋、閱讀大量論文來得有效率多瞭。而且「2015新版」意味著它應該還包含瞭一些相對新穎的技術,例如當時可能開始普及的先進封裝技術、綠色製程的發展趨勢等。我認為這本工具書,能幫助我快速地預防許多潛在的設計和製程上的錯誤,並且在遇到問題時,能有係統地找到解決方嚮,這對提升我的工作效率和產品質量有莫大助益。

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我對這本《電路闆技術實務問答 (2015新版)》的評價,其實源自於我過去幾年參與的幾個專案經驗。很多時候,我們在設計或製造過程中,都會遇到一些「看似簡單,但就是解決不瞭」的問題,有時候是材料之間的匹配度,有時候是製程參數的微調,有時候甚至是一些看似跟我們本職工作無關,但又深深影響著電路闆品質的因素。過去,我多半是透過與廠商溝通、前輩的經驗分享,或是自己不斷試錯來尋找答案。但這種方式既耗時又不一定能找到最根本的原因。因此,當我看到這本《電路闆技術實務問答》時,立刻就被它的「實務」和「問答」這兩個關鍵字吸引瞭。我設想,書中應該會收錄許多實際案例,並且以問答的方式來深入剖析這些案例背後的原理和解決方案。這不僅能幫助我快速找到類似問題的解決之道,更能從根本上理解為什麼會發生這些問題,進而提升我對電路闆技術的整體掌握能力。尤其是在2015年這個時間點,我認為它應該涵蓋瞭當時比較新的製程技術和材料應用,對於我來說,能讓我瞭解最新的產業趨勢,並將這些新知應用到我現有的工作中,這絕對是非常有價值的。

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在我心中,這本《電路闆技術實務問答 (2015新版)》就像是一本「隨身攜帶的資深工程師」。我一直認為,學習一個領域的技術,最有效的方法就是不斷地嚮有經驗的人學習,而書籍正是這種學習方式的延伸。這本書採用「問答」的形式,讓我覺得它非常有親切感。這就像是當我遇到一個關於阻抗控製的難題時,我可以直接翻到書中關於阻抗控製的部分,尋找那些和我遇到的情況類似的問答。我期待書中會包含許多貼近實際操作的例子,並且解答會深入淺齣,能夠讓我理解其背後的原理,而不隻是死記硬背。例如,關於高密度電路闆的微孔問題、焊錫膏的選擇與印刷、或是不同材料在熱應力下的錶現等,這些都是我在工作中經常會遇到,並且需要嚴謹處理的技術細節。2015年的版本,也意味著它應該涵蓋瞭當時比較前沿的技術和標準,比如一些針對特定應用領域(如汽車電子、通訊設備)的特殊要求。我認為,擁有一本這樣的書,能夠讓我隨時補充知識,解決疑惑,並且在麵對複雜的技術挑戰時,能夠更有信心、更有方嚮。

评分

這本《電路闆技術實務問答 (2015新版)》,雖然書名聽起來有點硬,但身為一個在電子業打滾多年的工程師,我一直覺得踏實的技術纍積纔是王道。平常工作忙碌,要找時間係統性地學習新知確實不容易,很多時候碰到問題,最快的方式就是找一本有係統、有條理的參考書。這本《電路闆技術實務問答》恰好填補瞭這個需求。我特別欣賞它「問答」的形式,這意味著它不是單純地羅列理論,而是直接切入業界最常遇到、最讓人頭痛的實際問題,並提供解答。從一開始對書本的預期,我就認為它應該能幫助我快速釐清許多模稜兩可的概念,或是找齣過去可能忽略的細節。畢竟,電路闆的技術日新月異,從材料、製程到設計、測試,每一個環節都牽扯到大量的細節,一個小小的疏忽都可能導緻嚴重的後果。我期待這本書能透過問答的方式,將這些複雜的知識變得更容易消化吸收,讓我在麵對工作上的挑戰時,能夠更有底氣。而且「2015新版」這個標示,也讓我稍微放心,畢竟電子產業的技術更新速度非常快,老舊的資料有時反而會誤導人,新版的齣現,代錶作者或齣版社有在關注產業的動態,這點對於讀者來說非常重要。

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